cryo-TOF-SIMS/SEMによるスギの水溶性成分の分布調査

K. Kuroda, T. Fujiwara, T. Imai, R. Takama, K. Sato, Y. Matsushita, K. Fukushima:
The Cryo-TOF-SIMS/SEM System for analysis of the chemical distribution in freeze-fixed Cryptomeria japonica wood.
Surface and Interface Analysis, 45, 215–219 (2013). DOI: 10.1002/sia.4979
http://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/sia.4979/full

概要

二次イオン質量分析（TOF-SIMS）をはじめとする質量分析では、
（原則的には）試料を高真空下に置かなければならず、氷を残したまま測定するのは難しいことです。
さらに表面数nmだけを測定するTOF-SIMSにおいては、表面に少しでも霜や汚れがついたり、
氷が昇華してしまったりすることを完全に防ぐ必要があります。
そのため、生体試料を凍結させたままの状態で測定することは非常に困難でした。

当研究グループではこの問題を解決するため、表面切削からTOF-SIMS測定、
さらに走査電子顕微鏡（SEM）観察までを低温化で連続的に繰り返すことが出来るシステムとして
【cryo-TOF-SIMS/SEM】を開発しました。
本論文では当該システムを用いて凍結したスギのTOF-SIMS測定を行い、
水が視野全面に残っていること、カリウムおよびスギ心材成分であるフェルギノールが
特定の箇所に局在していることを可視化しました。